美國家實驗室開發(fā)納米材料的光譜溫度計
美國能源部科學辦公室發(fā)布消息,能源部橡樹嶺國家實驗室的研究團隊發(fā)現(xiàn)了一種測量納米尺度局部溫度的新方法。其題為“基于能量增益損耗光譜學利用納米級電子探針進行溫度測量”的論文發(fā)表在《物理評論快報》上。
這項研究使用新型設(shè)備“高能量分辨率單色電子能量增益損失譜掃描透射電子顯微鏡(HERMES)”,采用了可生成高空間分辨率和高光譜細節(jié)圖像的電子能量增益光譜學技術(shù)。HERMES設(shè)備通過直接觀察與材料中的熱量相對應(yīng)的原子振動,來測量半導體六方氮化硼的溫度。
與其它溫度計需要標定刻度相比,HERMES這種“溫度計”不需要做溫度標定,也不用事先了解材料的任何信息,只需知道材料中原子振動的能量和強度,即可直接測量納米尺度的溫度。
HERMES設(shè)備使用單色電子束穿過被測樣品,大部分電子幾乎不與樣品相互作用,在能量損耗譜中,電子在通過樣品時損失能量,而在能量增益譜中,電子通過與樣品相互作用獲得能量。當樣品變熱時,觀察到能量增益的可能性更大。HERMES能觀察到非常小的能量增益或損失,再根據(jù)統(tǒng)計物理原理通過檢測電子能量的增益或損耗譜來計算樣品溫度。
HERMES設(shè)備可用于研究在很寬的溫度范圍內(nèi)工作的器件,該項目研究了在室溫到約1300攝氏度的范圍內(nèi)的溫度測量。納米級分辨率使研究人員能夠在材料相變過程中表征局部溫度。納米尺度的溫度測量能力還有助于推進微電子器件、半導體材料等技術(shù),這些技術(shù)的發(fā)展需要測繪出原子級的熱振動。